LSIの信頼性 (信頼性技術叢書) の感想

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参照データ

タイトルLSIの信頼性 (信頼性技術叢書)
発売日販売日未定
製作者二川 清
販売元日科技連出版社
JANコード9784817193636
カテゴリ科学・テクノロジー » 工学 » 電気工学 » 集積回路・IC

購入者の感想

半導体の基礎信頼性理論・high-kを含むトランジスタ系の信頼性技術・配線の信頼性・静電気破壊・故障解析・外挿による寿命推定法について、コンパクトだが詳細に記述されている。日本が誇る半導体技術力に出会えることができる。ただ、カーケンダルボイド、デンドライトといった後工程の信頼性技術の記述も欲しかった。それで、星4つとした。

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