LSIの信頼性 (信頼性技術叢書) の感想
参照データ
タイトル | LSIの信頼性 (信頼性技術叢書) |
発売日 | 販売日未定 |
製作者 | 二川 清 |
販売元 | 日科技連出版社 |
JANコード | 9784817193636 |
カテゴリ | 科学・テクノロジー » 工学 » 電気工学 » 集積回路・IC |
購入者の感想
半導体の基礎信頼性理論・high-kを含むトランジスタ系の信頼性技術・配線の信頼性・静電気破壊・故障解析・外挿による寿命推定法について、コンパクトだが詳細に記述されている。日本が誇る半導体技術力に出会えることができる。ただ、カーケンダルボイド、デンドライトといった後工程の信頼性技術の記述も欲しかった。それで、星4つとした。